25.06.2012 – DGemG:

Frühjahrstagung 2012

Höhepunkt der Arbeitstagung war traditionsgemäß die feierliche Überreichung der Qualifikationsurkunden an die Absolventen der DGemG Bildungsgänge Edelsteinkunde und Diamantenkunde und die neuen Fachmitglieder. Ebenso wurden Mitglieder, die vor 25 Jahren i

Am 12. Und 13. Mai fand die erste Arbeitstagung 2012 der Deutschen Gemmologischen Gesellschaft e.V. (DGemG) in Idar-Oberstein statt. Nach Ablauf ihrer Amtsperiode wurden der Präsident der DGemG Dr. Thomas Lind und die Mitglieder des Vorstandes für eine weitere Amtszeit bestätigt, Beirat und Ältestenrat wurden in geänderter Zusammensetzung neu gewählt. In seiner Eröffnungsrede am Samstagnachmittag stellte Dr. Thomas Lind zum 80jährigen Jubiläum der Deutschen Gemmologischen Gesellschaft ihre Bedeutung für die Edelstein- und Schmuckbranche heraus und verlas die Glückwünsche der Landesregierung Rheinland-Pfalz zu diesem Anlass.

Anschließend folgte das wissenschaftliche Programm der Arbeitstagung: Prof. Dr. Henry A. Hänni vom SSEF (Schweizerischen Gemmologischen Institut) begann mit einem umfassenden Vortrag über Perlen. Im Anschluss berichtete Dr. Ulrich Henn, Geschäftsführer der DGemG, von einer Reise zu den wichtigsten Mineralfundstellen in Brasilien. Im nächsten Vortrag entführte Dr. Paul Rustemeyer aus Gundelfingen optisch und musikalisch in die faszinierende Welt der Turmaline. Der Sonntag begann mit einem informativen Vortrag über Einschlüsse in Diamanten von Prof. Dr. Wolfgang Hofmeister vom Institut für Edelsteinforschung der Johannes-Gutenberg-Universität Mainz. Im zweiten Vortrag des Tages berichtete. Dr. Claudio Milisenda, Leiter der Deutschen Stiftung Edelsteinforschung, von den aktuellen Opalfundstellen in Äthiopien und ging auf das Bestrahlen verschiedener Opale ein. Abschließend hielt Dr. Klaus Schollenbruch, wissenschaftlicher Mitarbeiter der DGemG, eine Präsentation über beschichtete Steine. Nach der Vortragsreihe hatten die Zuhörer die Möglichkeit im Rahmen eines Workshops selbst aktiv zu werden und die Möglichkeit ,verschiedene Beschichtungen unter dem Mikroskop zu identifizieren.

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